1. Digital circuit testing and testability
پدیدآورنده: Lala, Parag K.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان (کرمان)
موضوع: Testing ، Integrated circuits - Very large scale integration,Testing ، Digital integrated circuits,، Integrated circuits - Fault tolerance
رده :
TK
7874
.
75
.
L35
1997
2. Digital circuit testing and testability
پدیدآورنده: Lala, Parag K.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,، Digital integrated circuits-- Testing,، Integrated circuits-- Fault tolerance
رده :
TK
7874
.
75
.
L35
1997
3. VLSI:
پدیدآورنده: edited by Ricardo Reis, Luc Claesen.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)
موضوع: Computer science.,Information storage and retrieval systems.
رده :
TK7874
.
75
E358
1997
